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膜厚分析仪

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    膜厚分析仪x射线膜厚仪是通过放射x射线穿透被测物体时的强度衰减量来测量物体厚度。x射线膜厚仪的优点是仪器在断电后就不会在释放任何射线,减少了对人体和周围环境的危害,从而是一种安全的膜厚仪,因此,各大工程中特别是在有色金属板材生产加工中被广泛的应用。但是,由于x射线测厚仪的射线强度、以及被测物的材质、温度、倾斜角度等都会影响到x射线膜厚仪测量的精确度,所以我们应该注意影响x射线膜厚仪测量精度的因素并注重对其进行日常的维护。

膜厚分析仪产品用途:电镀层厚度及多镍镀层电位测量

应用领域:PCB、LED、航天航海、电子电器、线路板、五金锁具、塑胶电镀、标准件、钕铁硼、技术监督部门及科研机构。

测量镀种:装饰铬、镍、铜、锌、锡、银、金、镉、硬铬、化学镍、多层镍,复合镀层(如Cr/Ni/Cu)约30几种镀层基体组合。如需测量其他镀层可事先提出.

镀层底材:金属、非金属、钕铁硼等

镀层层数:单层及复合多层

测量范围:13号~92号元素(保证精度情况下,更厚镀层也可测量)

 
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